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熒光X射線膜厚計
最後更新日期2024年6月28日
本事業結束了
橫濱市工業技術支援中心有2024年3月31日,廢止了。長rakunogo惠顧,表示衷心感謝了。因為以下是過去的信息所以請注意。
熒光X射線膜厚計的裝置介紹
概要
原理
向金屬薄膜樣品(鍍金膜)打從W目標抽出的X光的話接受的熒光X光被構成樣品的元素放出。 分離成每個能源,正做計測(探測器:比例計數管,PIN探測器)那種強度。 為在熒光X光強度和膜厚相關關係是膜厚根據能夠得到的熒光X光強度知道的結構。
特徵
能知道材料(金屬,塑料)上的金屬薄膜(單層膜,2層膜,合金膜)的膜厚。 因為對樣品照射X光所以原則上是非破壞性測量(根據樣品的大小,但是有不能用非破壞測量的情況)。 然而,能測量的元素範圍從第22個Ti(鈦)到第92個U(鈾)。
作為不擅長
因為必須查出來自測量部的熒光X光所以在探測器和測量點之間有屏蔽物的話不能測量(比方說凹狀狀樣品的內側部份的膜厚)。
因為分離能夠得到的熒光X光的不可能所以,在包括同一金屬在內的組合(比方說鍍黃銅上的銅的膜)的情況下,不可以膜厚的測量。
裝置性能以及式樣
型號裝置: FT9400株式會社日立高科技科學製造
導入歲月: 2014年11月
費用
在出自厚度考試熒光X射線膜厚計的東西1樣品1測量點2,400日圆
關於費用
- 特別的素材,需要精力的東西以及研究或者調查的手續費的額頭和實際費用適合額頭關於考試,分析或者調製做。
- 和規定的額頭的2倍的額頭做特別規定期限,緊急的東西的手續費或者使用費的數額。
- 在橫濱市內是具有辦事處或者營業所的者,被在中小企業基本法第2條規定的中小企業(外部網站)規定關係到始自於以外的要求的手續費或者使用費的數額的額頭的1.3倍的額頭(不足100日圆的零頭有時對100日圆結束那個零頭金額。)tosuru。
- 涉及來自沒在橫濱市內有地址的者或者沒在市內有辦事處或者營業所的個人或者法人之外的團體的要求的手續費或者使用費的規定數額的額頭的1.5倍的額頭(不足100日圆的零頭有時對100日圆結束那個零頭金額。)tosuru。
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