X射線繞射裝置

X射線繞射裝置的外觀

因為測量對樣品照射Ｘ光，折射的Ｘ光所以能得到關於樣品中的結晶的信息。主要被當作結晶性物質的定性定量分析使用，是非破壞，并且能分析成薄膜，薄板狀樣品以及粉末樣品。另外，本裝置備有供微小的部測量使用的準直器和照相機，能測量0.5mm四面八方程度的領域。

對物質照射Ｘ光的話Ｘ光根據某一個電子在物質中的原子的周圍零亂，發幹涉，在特定的方向加強的衍射現象。折射的Ｘ光被觀測的角度能對樣品從固有的事情根據物質中的結晶的結構(=原子的排列)包括的結晶進行定性分析。

型號裝置： Smart Lab(RIGAKU製造)
導入歲月： 2018年2月

• 特別的素材，需要精力的東西以及研究或者調查的手續費的額頭和實際費用適合額頭關於考試，分析或者調製做。
• 和規定的額頭的2倍的額頭做特別規定期限，緊急的東西的手續費或者使用費的數額。
• 在橫濱市內是具有辦事處或者營業所的者，被在中小企業基本法第2條規定的中小企業(外部網站)規定關係到始自於以外的要求的手續費或者使用費的數額的額頭的1.3倍的額頭(不足100日圆的零頭有時對100日圆結束那個零頭金額。)tosuru。
• 涉及來自沒在橫濱市內有地址的者或者沒在市內有辦事處或者營業所的個人或者法人之外的團體的要求的手續費或者使用費的規定數額的額頭的1.5倍的額頭(不足100日圆的零頭有時對100日圆結束那個零頭金額。)tosuru。